精度高的理由

1.积分半球的理想的光学系

搭载了积分半球。积分半球与积分球（全球）相比，有以下特点

? 可将非发光部分（手柄等）隔离在外部，有效控制了自我吸收，实现了理想的光学系。

? 通过镜子可将同一测量点的发光强度增加约2倍，QE2000，测量的感光度好

? 轻松装卸样品测量用cell、划伤积分球内部的风险小

2.根据再激励荧光補正功能，大塚QE，观察”真正德物性值”

包括再激励荧光发光状态下，QE，不仅不能观察材料本身的物性，也不能观测到包含装置的特性，无法求出真正的物性值。通过利用积分半球的再激励荧光補正的特点，可简单的测量出真正的物性值，且精度高。

3.通过低迷光多通道分光检出器，降低紫外区域的迷光

以往的检出器（多色仪），因检测出的紫外区域的迷光很高，可以说不适合量子効率（量子收率）的测量。大塚电子开发出了去除迷光的技术，这个问题也得以解决。搭载在上的多通道分光检出器，与本公司以往的产品相比，迷光量约1/5，QE量子效率，即使在紫外区域，测量的精度也非常高。

BAM的复数激励的测量例

激励波长变化，量子効率（量子收率）也会随之变化。下图中显示的时BAM（粉体）的量子効率（量子收率）及反射率的激励波长依赖性。（BAM＝BaMgAl10O17:Eu） ● 蓝色（左边的scale）：再激励補正后的内部量子効率（内部量子收率） ■ 红色（右边的scale）：各激励波长中的反射率根据此图，如是BAM的情况时，激励光越接近可视区域，收率越低。也就是反射率变大。

什么是再激发荧光发光...

在荧光体样品表面上反射的激发光在积分球内扩散和反射并再次进入荧光样品以发射更多光的现象。

产品特点：

操作简单

? 专业软件，操作简单

? 轻松装卸样品测量用cell

? 小型设计，省空间

? 利用分光器型的激励光源，可选择任意波长

? 可在软件指i定激励波长的波长及step的值，进行自动测量

功能多

? 可用于粉体、溶液、固体（膜）、薄膜样品的测量

? 丰富的解析功能

测量项目

? 量子効率（量子收率）测量

? 激励波长依赖性测量

? 发光光谱测量

? PL激励光谱测量

? EEM（Excitation Emission Matrix）测量

苏州大塚电子公司-QE由大塚电子(苏州）有限公司提供。行路致远，砥砺前行。大塚电子(苏州）有限公司（www.otsukael.com.cn）致力成为与您共赢、共生、共同前行的战略伙伴，更矢志成为机械加工具有一定影响力的企业，与您一起飞跃，共同成功!