大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！
硬涂层膜厚度的测量[FE-0004]
近年来，使用具有各种功能的高i性能薄膜的产品被广泛使用，并且根据应用不同，还需要提供具有诸如摩擦阻力，抗冲击性，耐热性，薄膜表面的耐化学性等性能的保护薄膜。通常保护膜层是使用形成的硬涂层（HC）膜，OPTM，但是根据HC膜的厚度不同，可能出现不起保护膜的作用，膜中发生翘曲，或者外观不均匀和变形等不良。 因此，管理HC层的膜厚值很有必要。
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影响膜厚仪测量的的客观因素
耦合剂对膜厚仪的影响。耦合剂是用来排除探头和被测物体之间的空气，使超声波能有效地穿入工件达到检测目的。如果选择种类或使用方法不当，将造成误差或耦合标志闪烁，无法测量。因根据使用情况选择合适的种类，OPTM设备，当使用在光滑材料表面时，OPTM膜厚仪，可以使用低粘度的耦合剂；当使用在粗糙表面、垂直表面及顶表面时，大塚OPTM，应使用粘度高的耦合剂。
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如果膜厚测试仪已经进行了适当的校准，所有的测量值将保持在一定的误差范围内；根据统计学的观点，一次读数是不可靠的。因此任何由膜厚测试仪显示的测量值都是五次“看不见”的测量的平均值。这五次测量是在几分之一秒的时间内由探头和仪器完成的。
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