大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！

使用显微光谱法在微小区域内通过绝i对反射率进行测量，可进行高i精度膜厚度/光学常数分析。

可通过非破坏性和非接触方式测量涂膜的厚度，例如各种膜、晶片、光学材料和多层膜。 测量时间上，OPTM设备，能达到1秒/点的高速测量，OPTM，并且搭载了即使是初次使用的用户，也可容易出分析光学常数的软件

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影响膜厚仪测量的的客观因素

耦合剂对膜厚仪的影响。耦合剂是用来排除探头和被测物体之间的空气，使超声波能有效地穿入工件达到检测目的。如果选择种类或使用方法不当，将造成误差或耦合标志闪烁，无法测量。因根据使用情况选择合适的种类，当使用在光滑材料表面时，可以使用低粘度的耦合剂；当使用在粗糙表面、垂直表面及顶表面时，应使用粘度高的耦合剂。

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1.膜厚测试仪出现下列情况，OPTM厂家，必需重新校准。　　·校准时，OPTM反射率测试，输入了一个错误值；　　·操作错误。　　2.在直接方式下，如果输入了错误的校准值，应紧接着做一次测量，随后再做一次校准，即可获取新值消除错误值。　　3.每一组单元中，只能有一个校准值。　　4.零点校准和二点校准都可以重复多次，以获得更为精准的校准值，提高测量精度但此过程中一旦有过一次测量，则校准过程便告结束。

OPTM反射率测试-OPTM-苏州大塚电子公司由大塚电子(苏州）有限公司提供。大塚电子(苏州）有限公司（www.otsukael.com.cn）拥有很好的服务与产品，不断地受到新老用户及业内人士的肯定和信任。我们公司是商盟认证会员，点击页面的商盟客服图标，可以直接与我们客服人员对话，愿我们今后的合作愉快！